¡Ya está disponible el primer número de Micro-X!

La revista oficial de la Asociación Mexicana de Microscopía y Microanálisis (AMMM) llega con todo en su edición inaugural. Descubre la técnica de difracción de electrones por precesión explicada de forma accesible, aprende sobre EBSD en el microscopio electrónico de barrido, conoce el innovador detector Gather-X de JEOL, y explora cómo la inteligencia artificial está transformando el análisis en microscopía electrónica.

También encontrarás homenajes a figuras clave de la disciplina en México, noticias del campo, un calendario de eventos internacionales y la convocatoria al XIV Congreso Nacional de Microscopía 2026.

Micro-X es para investigadores, estudiantes y profesionales que quieren mantenerse al día en el fascinante mundo de la microscopía y el microanálisis.

Lee el Vol. 1, Núm. 1 — febrero 2026 y únete a la comunidad AMMM en ammmicro.mx